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L'infinitamente piccolo

microscopia e caratterizzazione

 

Scegli tra le nostre innovative soluzioni per microscopia a sonda (AFM/STM), ottica ed elettronica (FE-SEM) e per caratterizzazione meccanica a livelo nanometrico.

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G200

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G300

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UTM T150

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Dynamic Contact Module (DCM II)

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Continuous Stiffness Measurement (CSM)

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Software

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Latest news

Giugno 2010 - Primo sistema di microscopia iMIC (Till Photonics) fornito ai laboratori della sede genovese dell'Istituto di Biofisica del CNR.


Luglio 2010 - Sponsorizzazione del corso "Advanced methods in optical fluorescence microscopy towards nanoscopy" organizzato dalla Scuola Internazionale di Fisica "E. Fermi", Varenna (LC).


Gennaio 2011 - Agilent Technologies e SITEM saranno presenti al 10th Multinational Congress on Microscopy, Urbino, 4-9 settembre 2011.

Chi siamo

Abbiamo inziato la distribuzione di prodotti per le nanotecnologie nel 2005 con il rapporto esclusivo con Molecular Imaging (MI), nota azienda americana leader nella progettazione e fabbricazione di innovativi microscopi a sonda (AFM, STM). Con l'acquisizione nel 2006 della MI da parte di Agilent Technologies, il portofolio dei prodotti si รจ allargato sino ad includere soluzioni per microscopia elettronica (FE-SEM), sistemi di nano-indentazione e, con la tedesca Till Photonics, soluzioni per microscopia in fluorescenza.

Alcuni Clienti


 
 
 
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